x射线荧光测厚仪

发布时间:2015-9-24 浏览次数:324

产品简介: 可为电镀客户提供更佳的X荧光测量方案，X射线从上向下照射样品，不同大小形状的样品更方便放置及测量。x射线荧光测厚仪的自动操作系统为用户提供方便可靠的镀层测厚、镀液分析、简单元素分析或贵金属分析方案。标准配置为20倍彩色CCD系统用于样品图象观察；XYZ三维移动样品台；单准直器及多准直器可选，样品托盘自动弹出功能，激光对焦及定位系统，二次滤光片多种可选方式及封气式正比计数器。
优特完善的X荧光分析软件基于基本参数法（FP法）或校正曲线法，确保了完美的测量结果。仪器易于操作，软件界面更具人性化。

元素含量分析指标	分析范围：100PPM-99.99% 准确度：相对误差5%以内精密度：相对标准差5%以内检出限：100PPM	测试时间	镀层测厚：10-100秒元素分析：60-300秒
X光管	50W(4-50KV 0 -1.0mA)标配	样品台	简易手动样品台，Z轴升降调节，操作简单
探测器	正比计数器	测试软件	基本参数法
滤光器	二次滤光	重量	100千克
准直器	Standard configuration: 1 collimator (Ф3mm / Ф1mm / Ф0.5mm / Ф0.2mm /Ф0.1mm); Multi- collimators Options	软件	镀层测厚软件，元素分析软件
样品观察	CCD高精度彩色摄像头	配套	标准液体测量杯
对焦系统	镭射对焦	稳压系统	UPS稳压电源
测量方向	从上向下	电脑	联想电脑
可测元素	K到U	打印机	彩色喷墨打印机

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